GB/T 16822-1997 介电晶体介电性能的试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-16 12:35:56 浏览:8964
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
基本信息
| 标准名称： | 介电晶体介电性能的试验方法 |
| 英文名称： | Test method for dielectric properties of dielectric crystal |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 电子设备专用材料、零件、结构件 >> 电子技术专用材料 |
| ICS分类： | 电子学 >> 电子元件综合 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1997-05-28 |
| 实施日期： | 1998-02-01 |
| 首发日期： | 1997-05-28 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 中国科学院物理研究所 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-04-11 |
| 页数： | 平装16开， 页数：7， 字数：8千字 |
| 书号： | 155066.1-14147 |
适用范围
本标准规定了介电晶体的低频（10MHz以下)介电系数及介电损耗的试验方法。本标准适用于介电晶体的介电性能的测定。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 电子设备专用材料 零件 结构件 电子技术专用材料 电子学 电子元件综合
下载地址: 点击此处下载